集成了四项专利技术：

◇用于氢化物发生法的间歇泵进样装置

专利号：ZL 2003 2 0100041.5

◇ 去除水蒸气装置

专利号：ZL02 2 85169.0

◇ 化学气相发生气液分离装置

专利号：ZL 2005 2 0001620.3

◇ 氢化物发生原子荧光测量尾气中有害元素的捕集阱装置

专利号：ZL 2005 2 0110557.7

仪器主要特点：

◇用于样品中As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd、Au元素的痕量分析;

◇适用于车载现场快速检测，可配接笔记本电脑;

◇光源：采用集束式脉冲供电方式;

◇光学系统：短焦距透镜聚光，无色散全密闭避光调光系统;

◇进样系统：全自动内置式间歇泵进样系统;

◇原子化器：低温自动点燃氩-氢火焰，屏蔽式石英原子化器;

◇采用80或160位极坐标式自动进样器;

◇开机自检，气路自动控制、自动保护、自动报警系统;

◇ 具备化学气相发生气液分离装置，自动去除水蒸气装置;

◇具备氢化物发生原子荧光检测尾气中有害元素捕集阱装置，有效防止对环境造成的二次污染;

◇标准的RS—232/485通讯，功能强大的中英文软件操作系统，可实现自动系统诊断、自动样品测量、标准曲线测量，多种报告格式，并备存专家帮助系统。

检出限DL：
AS、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn：＜0.01μg/L

Hg、Cd：                      ＜0.001μg/L

Ge：                          ＜0.05μg/L

Zn：                           ＜1.0μg/L

Au：                          ＜3.0μg/L

线性范围：                     大于三个数量级

独特的可升级模块：

◇配形态分析部件和相关操作系统，即可进行As、Se、Hg、Sb等元素的形态分析；
◇配专用气态汞检测装置，可实现空气中超痕量汞的测定；
◇配专用水中超痕量汞检测装置，可检测海水、地表水中超痕量汞（检出限≤0.0002μg/L）；
◇配直接进样测镉装置，可直接检测固体、液体样品中的镉，无需样品前处理；
◇配直接进样测汞装置，可直接检测固体、液体样品中的汞，无需样品前处理；
◇配直接进样测汞镉同测装置，可同时直接检测固体、液体样品中的汞和镉，无需样品前处理。